← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 14
Работа: Surface morphology analysis of silicon doped with erbium atoms
Defect-formation processes in silicon doped with manganese and germanium
K. P. Abdurakhmanov, Sharifa B. Utamuradova, Kh.S. Daliev +2
Статья1998Цитирований: 10ABI