← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 11
Работа: The Effect of Thermal Annealing on the Electrophysical Properties of Samples n-Si<Ni,Сu>
Dopant microassociation mechanisms in Si〈Mn〉 and Si〈Ni〉
С. З. Зайнабидинов, K. N. Musaev, N. A. Turgunov +1
Статья2012Цитирований: 6ABIFormation and kinetics of decomposition of impurity nickel precipitates in silicon
С. З. Зайнабидинов, N. A. Turgunov
Статья2004Цитирований: 2ABI