Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 15

Работа: The Influence of Fin Shape on the Amplitude of Random Telegraph Noise in the Subthreshold Regime of a Junctionless FinFET

  1. Scaling of Trigate Junctionless Nanowire MOSFET With Gate Length Down to 13 nm

    Sylvain Barraud, Matthieu Berthomé, R. Coquand +7

    Статья2012Цитирований: 6
    ABI
  2. Quantum corrections in the simulation of decanano MOSFETs

    Asen Asenov, A. R. Brown, J.R. Watling

    Статья2003Цитирований: 4
    ABI
  3. RTN distribution comparison for bulk, FDSOI and FinFETs devices

    Louis Gerrer, Salvatore Amoroso, Razaidi Hussin +1

    Статья2014Цитирований: 3
    ABI
  4. Double-gate junctionless transistor model including short-channel effects

    Bruna Cardoso Paz, Fernando Avila Herrera, A. Cerdeira +1

    Статья2015Цитирований: 2
    ABI
  5. Ultralow-Power Design in Near-Threshold Region

    Dejan Marković, C.C. Wang, Louis P. Alarcón +2

    Статья2010Цитирований: 2
    ABI
  6. Random telegraph-signal noise in junctionless transistors

    A. N. Nazarov, Isabelle Ferain, Nima Dehdashti Akhavan +3

    Статья2011Цитирований: 2
    ABI
  7. Modeling Short-Channel Effects in Asymmetric Junctionless MOSFETs With Underlap

    Nivedita Jaiswal, Abhinav Kranti

    Статья2018Цитирований: 2
    ABI
  8. Без названия

    ДругоеЦитирований: 2
    ABI