Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 23

Работа: Raman Spectoroscopy of Silicon Single Crystals, Doped with Palladium and Irradiated by GammaRays

  1. Iron contamination in silicon technology

    A. A. Istratov, H. Hieslmair, E. R. Weber

    Статья2000Цитирований: 5
    ABI
  2. Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra

    C. Smit, R.A.C.M.M. van Swaaij, H. Donker +3

    Статья2003Цитирований: 4
    ABI
  3. Raman spectroscopy of PtSi formation at the Pt/Si(100) interface

    J. C. Tsang, Y. Yokota, R. Matz +1

    Статья1984Цитирований: 4
    ABI
  4. One and two-phonon Raman scattering from nanostructured silicon

    Igor Iatsunskyi, Grzegorz Nowaczyk, Stefan Jurga +3

    Статья2015Цитирований: 3
    ABI
  5. Resonant Raman scattering of a single layer of Si nanocrystals on a silicon substrate

    A. Wellner, Vincent Paillard, H. Coffin +2

    Статья2004Цитирований: 3
    ABI
  6. Critical-point analysis of the two-phonon Raman spectrum of silicon

    K. Uchinokura, Tomoyuki Sekine, E. Matsuura

    Статья1974Цитирований: 3
    ABI
  7. The optical properties of luminescence centres in silicon

    Gordon Davies

    Статья1989Цитирований: 3
    ABI
  8. Radiation Damage by Heavy Ions in Silicon and Silicon Carbide Detectors

    C. Altana, L. Calcagno, C. Ciampi +8

    Статья2023Цитирований: 2
    ABI
  9. INFLUENCE OF ALPHA PARTICLES ON TECHNOLOGICAL IMPURITIES IN SILICON DOPED WITH PLATINUM

    Sharifa B. Utamuradova

    Статья2025Цитирований: 2
    ABI
  10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  11. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  12. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI