← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 23
Работа: Raman Spectoroscopy of Silicon Single Crystals, Doped with Palladium and Irradiated by GammaRays
Iron contamination in silicon technology
A. A. Istratov, H. Hieslmair, E. R. Weber
Статья2000Цитирований: 5ABIDetermining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra
C. Smit, R.A.C.M.M. van Swaaij, H. Donker +3
Статья2003Цитирований: 4ABIRaman spectroscopy of PtSi formation at the Pt/Si(100) interface
J. C. Tsang, Y. Yokota, R. Matz +1
Статья1984Цитирований: 4ABIOne and two-phonon Raman scattering from nanostructured silicon
Igor Iatsunskyi, Grzegorz Nowaczyk, Stefan Jurga +3
Статья2015Цитирований: 3ABIResonant Raman scattering of a single layer of Si nanocrystals on a silicon substrate
A. Wellner, Vincent Paillard, H. Coffin +2
Статья2004Цитирований: 3ABICritical-point analysis of the two-phonon Raman spectrum of silicon
K. Uchinokura, Tomoyuki Sekine, E. Matsuura
Статья1974Цитирований: 3ABIRadiation Damage by Heavy Ions in Silicon and Silicon Carbide Detectors
C. Altana, L. Calcagno, C. Ciampi +8
Статья2023Цитирований: 2ABI