Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 20

Работа: Impact of the channel shape, back oxide and gate oxide layers on self-heating in nanoscale JL FINFET

  1. Scaling of Trigate Junctionless Nanowire MOSFET With Gate Length Down to 13 nm

    Sylvain Barraud, Matthieu Berthomé, R. Coquand +7

    Статья2012Цитирований: 6
    ABI

  2. Implementation of the Density Gradient Quantum Corrections for 3-D Simulations of Multigate Nanoscaled Transistors

    Antonio J. García‐Loureiro, Natalia Seoane, M. Aldegunde +4

    Статья2011Цитирований: 6
    ABI

  3. The Effect of the Fin Shape and Thickness of the Buried Oxide on the DIBL Effect in an SOI FinFET

    A.E. Abdikarimov, А. Yusupov, A. É. Atamuratov

    СтатьяSemiconductor materials and devicesTechnical Physics Letters2018Цитирований: 6
    ABI

  4. Physical origin of negative differential resistance in SOI transistors

    Liam McDaid, Steven Hall, Phil Mellor +2

    Статья1989Цитирований: 5
    ABI

  5. Simulation of DIBL effect in 25 nm SOI-FinFET with the different body shapes

    A. É. Atamuratov, A.E. Abdikarimov, M. M. Khalilloev +4

    СтатьяAdvancements in Semiconductor Devices and Circuit DesignNanosystems Physics Chemistry Mathematics2017Цитирований: 4
    ABI

  6. Integrated modeling of Self-heating of confined geometry (FinFET, NWFET, and NSHFET) transistors and its implications for the reliability of sub-20 nm modern integrated circuits

    Woojin Ahn, SangHoon Shin, Chang‐Ming Jiang +3

    Статья2018Цитирований: 4
    ABI

  7. Role of non-uniform channel doping in improving the nanoscale JL DG MOSFET reliability against the self-heating effects

    H. Ferhati, Fouzi Douak, F. Djeffal

    Статья2017Цитирований: 2
    ABI

  8. Reduction of self-heating effect using selective buried oxide (SELBOX) charge plasma based junctionless transistor

    Amrish Kumar, Abhinav Gupta, Sanjeev Rai

    Статья2018Цитирований: 2
    ABI

  9. Numerical study on the self-heating effects for vacuum/high-k gate dielectric tri-gate FinFETs

    Guohe Zhang, Junhua Lai, Shengli Zhu +3

    Статья2019Цитирований: 2
    ABI

  10. SOI versus bulk-silicon nanoscale FinFETs

    J.G. Fossum, Zhenming Zhou, L. Mathew +1

    Статья2009Цитирований: 2
    ABI

  11. Simulation of DIBL effect in junctionless SOI MOSFETs with extended gate

    A. É. Atamuratov, M. M. Khalilloev, A.E. Abdikarimov +4

    СтатьяAdvancements in Semiconductor Devices and Circuit DesignNanosystems Physics Chemistry Mathematics2017Цитирований: 2
    ABI

  12. Contribution to the Physical Modelling of Single Charged Defects Causing the Random Telegraph Noise in Junctionless FinFET

    A. É. Atamuratov, M. M. Khalilloev, Ahmed Yusupov +3

    СтатьяSemiconductor materials and devicesApplied Sciences2020Цитирований: 2
    ABI

  13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  16. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  17. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  18. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  19. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  20. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI