Асосий контентга ўтиш
AkademIndex

Маҳсулотлар

Ишлаб чиқувчилар учун

AkademBaseтез орадаЭкотизим учун очиқ API
Лотин
Ўзбек
← Ишга қайтиш

Ушбу иш иқтибос қилган ишлар

16 та иш

Иш: Structure Determination and Defect Analysis n-Si<Lu>, p-Si<Lu> Raman Spectrometer Methods

  1. Defect-formation processes in silicon doped with manganese and germanium

    K. P. Abdurakhmanov, Sharifa B. Utamuradova, Kh.S. Daliev +2

    Мақола199810 иқтибос
    ABI
  2. Multiphonon Raman Spectrum of Silicon

    P. A. Temple, C. E. Hathaway

    Мақола19738 иқтибос
    ABI
  3. Raman spectroscopic study of microcrystalline silica

    Kathleen J. Kingma, Russell J. Hemley

    Мақола19946 иқтибос
    ABI
  4. 15

    Gertrudis Gómez de Avellaneda

    Боб20226 иқтибос
    ABI
  5. Raman spectroscopic investigation of irreversibly compacted vitreous silica

    G. E. Walrafen, Y. C. Chu, M. S. Hokmabadi

    Мақола19905 иқтибос
    ABI
  6. The structural aspects of non-crystalline SiO2 films on silicon: a review

    A. G. Revesz, H.L. Hughes

    Шарҳ мақола20032 иқтибос
    ABI