← Ишга қайтиш
Ушбу иш иқтибос қилган ишлар
16 та иш
Иш: Structure Determination and Defect Analysis n-Si<Lu>, p-Si<Lu> Raman Spectrometer Methods
Raman spectroscopic study of microcrystalline silica
Kathleen J. Kingma, Russell J. Hemley
Мақола19946 иқтибосABIThe structural aspects of non-crystalline SiO2 films on silicon: a review
Шарҳ мақола20032 иқтибосABI