← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 16
Работа: Structure Determination and Defect Analysis n-Si<Lu>, p-Si<Lu> Raman Spectrometer Methods
Defect-formation processes in silicon doped with manganese and germanium
K. P. Abdurakhmanov, Sharifa B. Utamuradova, Kh.S. Daliev +2
Статья1998Цитирований: 10ABIRaman spectroscopic study of microcrystalline silica
Kathleen J. Kingma, Russell J. Hemley
Статья1994Цитирований: 6ABIRaman spectroscopic investigation of irreversibly compacted vitreous silica
G. E. Walrafen, Y. C. Chu, M. S. Hokmabadi
Статья1990Цитирований: 5ABIThe structural aspects of non-crystalline SiO2 films on silicon: a review
Обзорная статья2003Цитирований: 2ABIOptical Monitoring of the Biodegradation of Porous and Solid Silicon Nanoparticles
M. B. Gongalsky, Nikolay V. Pervushin, Daria E. Maksutova +9
Статья2021Цитирований: 2ABI