Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы

Advanced Materials Characterization Techniques

Работ: 160

  1. Secondary ion emission from niobium and tantalum

    M. A. Kulieva, G. Abdurahimova, É. É. Khalilov

    СтатьяIon-surface interactions and analysis2003Цитирований: 0
    ABI
  2. Auger Recombination in Semiconductors

    М. Н. Аликулов

    СтатьяSurface and Thin Film Phenomena2021Цитирований: 0
    ABI