Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 18

Работа: Capacitive Spectroscopy of Deep Levels in Silicon with Samarium Impurity

  1. Defect-formation processes in silicon doped with manganese and germanium

    K. P. Abdurakhmanov, Sharifa B. Utamuradova, Kh.S. Daliev +2

    Статья1998Цитирований: 10
    ABI
  2. Deep-level transient spectroscopy: A new method to characterize traps in semiconductors

    D. V. Lang

    Статья1974Цитирований: 9
    ABI
  3. Silicon clusters doped with an yttrium metal atom impurity

    Chuanyun Xiao, Jessica Blundell, Frank Hagelberg +1

    Статья2003Цитирований: 4
    ABI
  4. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  5. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  6. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI