← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 18
Работа: Capacitive Spectroscopy of Deep Levels in Silicon with Samarium Impurity
Defect-formation processes in silicon doped with manganese and germanium
K. P. Abdurakhmanov, Sharifa B. Utamuradova, Kh.S. Daliev +2
Статья1998Цитирований: 10ABIDeep-level transient spectroscopy: A new method to characterize traps in semiconductors
Статья1974Цитирований: 9ABISilicon clusters doped with an yttrium metal atom impurity
Chuanyun Xiao, Jessica Blundell, Frank Hagelberg +1
Статья2003Цитирований: 4ABI